分立器件

基于普赛斯数字源表(SMU)的忆阻器 基础性能研究测试解决方案

忆阻器基础性能研究 专注于半导体电性能测试 基于经典的电路理论,存在四个基本的电路物理量,即电流(i)、电压(v)、电荷(q)以及磁通(o)。根据这四个基本的物理量,理论上能够推导出六种数学关系,同时定义三种基...

普赛斯GaN HEMT射频器件参数测试

GaN HEMT射频器件参数测试 专注于半导体电性能测试 概述—射频 射频器件是实现信号发送和接收的基础部件,是无线通讯的核心,主要包括滤波器(Filter)、功率放大器(PA)、射频开关(Switch)、低噪声放大器(...

光电探测器电性能参数测试

光电探测器电性能测试 专注于半导体电性能测试 概述 光电二极管是一种将光转换为电流的半导体器件,在p(正)和n (负)层之间,存在一个本征层。光电二极管接受光能作为输入以产生电流。光电二极管也被称...

大功率激光器老化测试系统解决方案

大功率激光器老化测试 专注于半导体电性能测试 大功率半导体激光器及大功率半导体激光器泵浦激光器在材料加工、激光打标、激光测距、激光存储、激光显示、激光照明、激光医疗等民用领域,以及激光...

普赛斯PL系列LIV窄脉冲测试系统助力VCSEL的测试应用更高效可靠

VCSEL激光器LIV测试 专注于半导体电性能测试 概述 垂直腔面发射激光器(VCSEL)是一种激光发射方向垂直于P-N结平面,而谐振腔面平行于P-N结平面的半导体激光器,它属于面发射激光器的一种。而EEL边...

普赛斯IGBT功率器件静态参数测试解决方案

功率器件(IGBT)静态参数测试 专注于半导体电性能测试 概述 SiC/IGBT及其应用发展 IGBT(绝缘栅双极型晶体管)是电力控制和电力转换的核心器件,是由BJT(双极型晶体管)和MOS(绝缘栅型场效应管)组成的复...

普赛斯数字源表快速、准确进行三极管(BJT)特性分析

三极管(BJT)特性分析 专注于半导体电性能测试 三极管是半导体基本元器件之一，具有电流放大 作用，是电子电路的核心元件。三极管是在一块半导体 基片上制作两个相距很近的PN结，两个PN结把整块 ...

普赛斯S系列、P系列源表简化场效应管（MOSFET）I-V特性分析

场效应管(MOSFET)I-V特性分析 专注于半导体电性能测试 MOSFET(金属—氧化物半导体场效应晶体管)是 一种利用电场效应来控制其电流大小的常见半导体 器 件，可 以 广 泛 应 用 在 模 拟 电 路 和 数 字 电...

高精度数字源表(SMU)在二极管特性参数分析中的应用

二极管特性参数分析 专注于半导体电性能测试 分立器件特性参数测试是对待测器件（DUT）施加 电压或电流，然后测试其对激励做出的响应，通常分立 器件特性参数测试需要几台仪器完成，如数字万用表、 电压源、电流源等。然而由数台仪器组成的...